Approfondissement en imagerie au microscope électronique à balayage et en microanalyse x

Code Stage : FCEA02

Tarifs

Entreprises : 2210 €
Individuel : 1105 €

Nombre d'heures

24

Stage de quatre jours.

Responsable

François Brisset, Ingénieur de recherches, Université Paris-Sud.
Organisé en collaboration avec le centre des matériaux de l'ENMSP.
Avec la collaboration de spécialistes des centres de recherche des organismes suivants : Arcelor, EDF, Centre des Matériaux de l'ENSMP, ONERA, BRGM, Université d’Artois.

Publics et conditions d'accès

Toute personne devant utiliser régulièrement un MEB et une microanalyse EDS

Objectifs

  • Préciser et approfondir les connaissances nécessaires à un travail efficace sur les MEB et à une interprétation correcte des résultats.
  • Etudier les divers phénomènes physiques rencontrés lors des interactions entre un faisceau électronique et la matrice.
  • Rechercher les conditions optimales d'observation de ses propres échantillons
  • Approfondir la théorie et la pratique de la microanalyse X quantitative.
  • Maîtriser la qualité de l'image électronique et de l'analyse X.

Les +

Au cours d'une journée de démonstrations pratiques sur appareils, les divers modes d'imagerie et d'analyse seront présentés et discutés avec des opérateurs expérimentés.

Voir aussi les formations en

Programme

• Principes et techniques de l’imagerie au microscope électronique à balayage

• Interactions électrons-matière

• La microanalyse élémentaire par spectrométrie X à sélection d’énergie et à dispersion de longueur d’onde : aspects technologiques, traitement des données, pratique de l’analyse quantitative, programmes de correction

• Analyse d’images : numérisation, traitements numériques et binaires, segmentations, mesures

• La qualité au MEB et en microanalyse X et analyse d’images numériques.

• Approfondissement en microscopie électronique à pression contrôlée, notion d'analyse X dans ces conditions.

• Travaux dirigés sur appareils : imagerie MEB, analyse X qualitative et quantitative.

• Critères de choix d’un MEB et d’un microanalyseur X.

Moyens pédagogiques :

Cours, démonstrations

Moyens techniques :

Tableau blanc, vidéoprojecteur, MEB et microsonde

Modalités de validation :

Attestation de participation remise en fin de stage – QCM interactif

Centre(s) d'enseignement

Complément lieu

Paris IIIème

Session(s)

du 12 mars 2019 au 15 mars 2019


12, 13, 14, 15 mars 2019

Contact

Tél : 01 58 80 89 72
entreprises.inter@lecnam.net