Pratique de l'imagerie au microscope électronique à balayage Option matériaux métalliques

Code Stage : FCEA12

Tarifs

Entreprise : 1010€
Individuel : 505€

Nombre d'heures

14

Stage de deux jours.
Nombre de participants limité à 4.

Responsable

Zehoua Hamouche, Maitre de conférences, Equipe pédagogique Matériaux Industriels du CNAM

Publics et conditions d'accès

Opérateurs débutants, n'ayant pas encore ou très peu manipulé sur un MEB.

Prérequis :

Avoir suivi le stage "Introduction à la microscopie électronique à balayage (personnes débutantes)" (EA01), ou posséder les connaissances théoriques physiques correspondantes.

Objectifs

  • Utiliser et régler de façon optimale un microscope à balayage (MEB) pour réaliser des images en métallographie et fractographie des matériaux métalliques.
  • Dégager les principes physiques transposables à l'utilisation d'autres modèles de microscope à balayage.

Voir aussi les formations en

Programme

• Formation de l'image de routine
• Optimisation de l'image formée avec le détecteur d'électrons secondaires : influence des principaux paramètres (tension, courant, réglages faisceau, ...)
• Images formées avec le détecteur d'électrons rétrodiffusés - Entretien du MEB
• Choix optimal pour un échantillon donné

Moyens pédagogiques :

14 heures de travaux dirigés effectués sur un appareil EVO MA10 de chez Zeiss en groupe limité à quatre personnes.
Chaque participant est à tour de rôle opérateur pour chacun des exercices proposés.

Moyens techniques :

Tableau blanc, vidéoprojecteur

Modalités de validation :

Attestation de participation remise en fin de stage – Pas d'examen final

Centre(s) d'enseignement

Complément lieu

Paris IIIe

Session(s)

du 27 juin 2018 au 28 juin 2018

du 26 juin 2019 au 27 juin 2018

Contact

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Du lundi au vendredi, de 09h30 à 17h00