Caractérisation des matériaux
- Introduction à la microscopie électronique à balayage et à la microanalyse x élémentaire (personnes débutantes)
- Approfondissement en imagerie au microscope électronique à balayage et en microanalyse x
- Pratique de l'analyse EBSD
- Pratique de l'imagerie au microscope électronique à balayage Option matériaux métalliques
- Pratique de la microanalyse élémentaire par spectrométrie x avec un détecteur à diode (EDS) associé au microscope à balayage
- Initiation à la diffraction des rayons X
- Analyse des cycles de vie pour l'industrie
- Caractérisation in situ et métrologie industrielle par tomographie aux rayons X
Organismes partenaires
Une question ?
Remplir le formulaire de demande ou appeler le
01 58 80 89 72
Du lundi au vendredi
(hors jours fériés)
De 09h30 à 12h00
et de 13h30 à 17h00
Votre inscription
Bulletin d’inscription à télécharger
et à renvoyer par courrier à :
Cnam Entreprises
Service inscription - Case B2B01
292 rue Saint-Martin
75003 Paris
ou par e-mail à : entreprises.inter@lecnam.net