Approfondissement en imagerie au MEB et en microanalyse X

Objectifs pédagogiques

• Préciser et approfondir les connaissances nécessaires à un travail efficace sur les MEBs et à une interprétation meilleure des résultats d’analyse X,
• Étudier les divers phénomènes physiques rencontrés lors des interactions entre un faisceau électronique et la matière,
• Rechercher les conditions optimales d'observation de ses propres échantillons,
• Approfondir la théorie et la pratique de la microanalyse X quantitative sur massif ou stratifiés,
• Améliorer sa maîtrise de la qualité de l'imagerie électronique et de l'analyse X,
• Savoir identifier des problèmes lies aux équipements.

Compétences visées

• Comprendre ses images et ses microanalyses,
• Connaitre les phénomènes physiques, les utiliser à bon escient,
• Résoudre les problèmes éventuels et maitriser ces images et microanalyses.

Les + du stage

• Atout 1 : Les bases théoriques révisées et avec un accent sur la microanalyse X quantitative,
• Atout 2 : Une journée de travail sur les équipements avec des utilisateurs expérimentés,
• Atout 3 : De nouvelles notions sur les systèmes d’analyses WDS et EBSD et du travail sur les matériaux polymères,
• Atout 4 : A la fin, une révision de tous les points importants et vus durant la semaine à l’aide d’un quiz.

Enquête de satisfaction

Cnam Entreprises étant dans une démarche d’amélioration continue, une enquête de satisfaction devra être complétée à la fin de la formation par chacun des stagiaires. Dans le cas d’un cursus, chaque unité d’enseignement (UE) sera évaluée individuellement.